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QRM QRM-MicroBar測試卡，QRM-MicroBar測試模體,Micro-CT高分辨率測試卡 技術參數： 內含兩個3mm×3mm硅質芯片，分別水平和垂直安裝，芯片上刻有條狀（溝槽）和點狀圖樣，度規格為：1μm，2μm，3μm，4μm，5μm，6μm，7μm，8μm，9μm，10μm.
更新時間：2026-03-25
JIMA RT RC-04分辨率測試卡,RT RC-04測試卡詳細介紹： JIMA（日本檢測儀器制造商協會），致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。
更新時間：2026-03-12
德國QUART公司高分辨測試卡（X射線檢測用線對卡）、二度星卡（2度星卡，焦斑卡）是醫院、疾控中心、第三方檢測單位用來檢測 X射線機等透視成像設備的X射線的分辨率的裝置。 Type 81高分辨測試卡
更新時間：2026-03-12
JIMA RT RC-05分辨率測試卡 測試卡封裝在一個防護盒中 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm 芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm 圖案布局：T型 （3-10μm） I 型 （15-50μm）
更新時間：2026-03-12
JIMA RT RC-04分辨率測試卡是一種用于設置和測試微焦 X 射線系統的光刻生產的測試模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之間的分辨率，對應于 0.2 µm 和 20 µm 之間的焦斑尺寸。不同距離的線束應用于硅載體
更新時間：2026-03-09
光學成像系統的分辨率指該系統能否分開兩個靠近的點或物體細節的能力，通常以每毫米可以識別的線對數（lp/mm）來表示光學成像系統分辨率的大小。 美國phantech 分辨率測試卡
更新時間：2026-03-05
WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡每個線對組由4塊規格尺寸相同的薄片平行排列構成（薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開），兩側放置最厚薄片的2倍厚度的校準塊，每組線對卡里面的金屬片組間隔為2.5mm。
更新時間：2026-04-14
RC-02B分辨率測試卡X射線分辨率測試卡致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。
更新時間：2025-07-02
RT CT-01 JIMA分辨率卡致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。
更新時間：2025-06-30
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